散射|正确

x射线的散射是CT中产生此类伪影的主要因素。虽然最先进的散射减少技术是基于CAD数据或样品的材料属性来模拟散射，但Waygate Technologies的专有散射校正技术实际上是在CT扫描仪中测量特定样品的散射部分，并将每个个体素的CT结果最小化。新的专利方法提高了高能CT应用的检测吞吐量和精度，可以扫描原子序数相对较高的难以穿透的样品，例如金属，这些样品实际上是用高度准直的经典二维扇束CT进行的。它使客户能够获得工业平板锥束CT从未达到过的CT质量。通过将高精度的风扇束CT质量与高达100倍的全自动锥束CT吞吐量相结合，显著提高了CT的检测效率，使其能够从研发应用转移到生产车间的串行检测。

新方法不仅在许多应用情况下取代了较慢的风扇束微型聚焦CT:在许多应用情况下，300千伏微型CT扫描现在可以用于检测任务，而通常需要投资更昂贵的450千伏高能CT设备。

先进的散射校正技术也提高了测量精度:使用CT的3D计量总是使用自动表面检测算法来确定要测量的3D体积的表面。与传统的锥束CT相比，在相同的扫描参数下，新方法允许更多的材料穿透(高达30%)，仍然可以确定精确的表面。在相同的材料穿透长度下，新的散射校正方法允许更精确的表面检测，因为较少的伪影对测量结果产生负面影响。