电子产品的无损x射线检测

Phoenix Microme x neo和Nanome x neo AXI系统在一个系统中提供高分辨率2D x射线检测和3D计算机断层扫描(CT)扫描，实现工业、汽车、航空和消费电子行业中半导体、pcb、锂离子电池等电子元件的无损检测(NDT)。

与创新的工程加上超高的定位精度， Phoenix Microme|x neo和Nanome|x neo非常适合工业高度自动化的x射线电子检测过程和质量控制，故障分析和研发。

凤凰X|act是一个大型的和强大的图像处理软件对自动测试周期进行编程。手动，以及全自动x射线检查，可以做得很容易，不言自明。

手动x射线检测，Waygate Technologies可选闪光!™图像优化技术实现更快、更可靠的故障检测。

凤凰X型潜艇是一艘易于使用的入门级微聚焦x射线检测(AXI)系统具有强大的性能，专为电子组件，组件和PCBA的高分辨率检测的特殊需求而设计。

由于CMOS平板探测器和计算机断层扫描(CT)的新组合，该系统提供显着更好的信噪比，清晰度和生活成像能力。强大的Phoenix X / act 2D基础软件和Phoenix Datos / X CT基础软件易于使用，允许手动和自动检查。

我们的PlanarCT模块使使用Phoenix Microme|x和Nanome|x自动x射线检测系统的用户能够执行更好，更可靠的检查用于复杂印刷电路板组件中的焊点和封装。执行PlanarCT扫描是易于调整，无需任何样品准备固定在旋转阶段．板子被放置在操作桌上，当桌子旋转时，感兴趣的区域被扫描。重建的PlanarCT切片或多层视图允许对单个平面或整个感兴趣的包进行精确的检查，而无需覆盖其他板区域的结构。我们包含的3D|查看器也允许完整的卷评估任务。